X-ray Diffraction (XRD)

신제품X-ray Diffraction (XRD)
제품코드	G021327
판매가격	가격협의
제품분류	측정/계측/검사/시험기 > 검사.시험기.계측기 기타
제품사양	하단표기
모델명	D8 DISCOVER with GADDS
제조사	브루커코리아
판매지역	전국
거래방식	직거래
제조년도	2013 년
A/S여부	가능
설치 및 시운전	가능
세금계산서	가능
제조국가	-

제품 QR코드

등록자정보

회사명	브루커코리아	담당자	브루커코리아
전화번호	031-716-5698	휴대전화	***
이메일	info@bruker.kr	홈페이지	http://www.bruker.kr
주소	경기도 성남시 분당구 성남대로331번길 8 (정자동, 분당인텔리지1) 킨스타워 15층 클라이브하우워드세이무어	제품홍보관	http://blog.yeogie.com/bruker

제품상세정보

매일매일의 업무가 과학기술의 한계까지 치닫는 분석 및 연구분야의 사용자는 매일같이  변화되는 요구에 적합한 장비를 요구합니다.
 
 
가장 작거나 혹은 가장 큰 샘플, 그리고 샘플의 양, 동질이 아니거나 혹은 무거운 무게를 갖는 복잡한 기하학의 샘플 등 이 모든 것을 취급하는 Diffractometer의 유연성은 모든 분석을 실행할 수 있는 열쇠가 됩니다.
 
 
D8 DISCOVER with GADDS 는 완전한 모듈 시스템 안에서 최고의 품질을 지닌 최신 x-ray 기술을 포함합니다. D8 DISCOVER with GADDS는 다양한 분야의 XRD2와 SAXS어플리케이션의 다양한 샘플을 분석해냅니다.
 
 
D8 DISCOVER with GADDS 는 조정된 monochromatic 평행 엑스레이 빔으로 샘플을 비춥니다. Bruker의 GADDSPLUS 소프트웨어는 공간적으로 회절 된 x-rays 를 측정하고 해석합니다.
 
 
D8 DISCOVER with GADDS의 특징으로는  당사가 특허를 보유한 automated Laser-Video 시스템과 HI-STAR area detector라고 할 수 있습니다.
 
 
이 두 장치는  샘플 특성에 따라 즉시 분석을 위하여 간단하면서도 정밀한 얼라인먼트를 snap shot 혹은 movie mode안에서 수행합니다. HI-STAR detector의 민감성 때문에 데이터의 peak to back ground은 거의 이론적인 한계 수치까지 작게 나타납니다.
 
 
많은 고성능 액세서리들이 측정 단계별 상분석, 정량분석, TEXTURE, 잔류응력, Single Crystal Diffraction, 저각 산란(Small Angle X-ray Scattering), 고성능 screening High Throughput Screening, 미소부위 회절 측정, Sample Mapping, RSM(Reciprocal Space Mapping mapping), Non Ambient Characterization,고분해능X선 회절( High resolution X-ray Diffraction), 반사율 측정법, Gracing Incidence Diffraction, 상변이 에 대한 목록화(제약샘플에 필수적인 Phase Transition의 자동 목록화)와 구조 분석에 이르는 어플리케이션을 모두 수용해냅니다.

 

※ 출처 : 여기에 기계플라자 - [G021327] X-ray Diffraction (XRD)