여기에 기계

제품코드G049034판매 회사명위즈옵틱스연락처031-477-3785홈페이지-제품홍보관http://blog.yeogie.com/wizoptics ※ 출처 : 여기에 기계플라자 - [G049034] Stage Position Metrology

제품코드G049033판매 회사명위즈옵틱스연락처031-477-3785홈페이지-제품홍보관http://blog.yeogie.com/wizoptics ※ 출처 : 여기에 기계플라자 - [G049033] Laser Interferometers

제품코드G049032판매 회사명위즈옵틱스연락처031-477-3785홈페이지-제품홍보관http://blog.yeogie.com/wizoptics ※ 출처 : 여기에 기계플라자 - [G049032] Laser Interferometers

제품코드G049031판매 회사명위즈옵틱스연락처031-477-3785홈페이지-제품홍보관http://blog.yeogie.com/wizoptics - 미세한 표면 형상 및 조도 측정 - LCD 및 Display 소자 측정 - Color Filter의 RGB 높이 측정. - Glass 또는 Wafer의 Roughness 측정 및 Dust Inspection - 비구면 렌즈 또는 각종 금형의 Roughness 측정 - Back Light Unit의 Roughness 및 Angle 측정 - Wafer 뒷면의 Packaging 또는 Laser Marking을 위한 Roughness 측정 MEMS device 및 정밀 표면 - 자동차 (Automobile) 부품 및 재료 측정 - Sollar Cell 의 Textur..

제품코드G049030판매 회사명위즈옵틱스연락처031-477-3785홈페이지-제품홍보관http://blog.yeogie.com/wizoptics ※ 출처 : 여기에 기계플라자 - [G049030] Optical Surface profilers

제품코드G049017판매 회사명중원통상연락처031-458-1670홈페이지-제품홍보관http://blog.yeogie.com/jwcdisplay BandiT - Temperature Monitor [k-Space Associated Inc. USA] Measure wafer and/or thin-film temperature in a way that is non-contact, non-invasive, and real-time. Insensitive to changing view port transmission, stray light sources, and signal contribution from substrate heaters, kSA BandiT provides a viable solution fo..

제품코드G049013판매 회사명중원통상연락처031-458-1670홈페이지-제품홍보관http://blog.yeogie.com/jwcdisplay Microwave Ion Plasma Source and RHEED gun [ARIOS Inc. Japan] ARIOS사는 아래와 같은 다양한 프라즈마 및 진공 응용 제품을 공급하고 있습니다 1.Plasma Source a)Microwave Radical Source (ERMS-211Q) b)Microwave Ion Source (EMIS-221C) c)Microwave Ion/Radical Source (IMIS-211Q) d)초소형 Microwave Plasma Source (SMPS-201) e)RF Radical Source (IRFS-503) f)RF P..

제품코드G049012판매 회사명중원통상연락처031-458-1670홈페이지-제품홍보관http://blog.yeogie.com/jwcdisplay 위상차측정장치/Axoscan system. * 400nm ~ 800nm Wavelength 사용 * ± 75° Tilt를 사용하여 정확한 Rth 측정과 Panel에 대한 광 특성을 측정 * XY mapping을 사용하여 Sample의 uniformity를 측정 * Sample의 R0, Rth, Orientation, B angle 측정 * 다층의 편광필름을 분리하지 않고 각 layer별로 특성을 측정 할 수 있음 자세한 내용은 첨부파일을 확인해 주세요 [다운로드] 위상차측정장치-Axoscan system(14).pdf AxoScan catalogue(1).pdf ..